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  • 美國GE探頭TF-2R-T40-1-1-0-0-0

    美國GE探頭TF-2R-T40-1-1-0-0-0 GE檢測科技公司提供全套係列的Krautkramer單晶接觸式探頭和單晶延遲探頭,可與超聲波測厚儀完全兼容。秋葵视频软件免费下载网站提供的探頭類型多樣,能滿足您對不同金屬及非金屬材料的平滑表麵的測試要求。根據材料性能以及儀器/探頭連接的不同,測厚儀的測量範圍可以從0.005至15.00英寸(即0.13至381mm),分辨率可達0.0001英寸。

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